ФИЗИКА:
МАТЕРИАЛЫ: ТЕХНОЛОГИИ ИХ СОЗДАНИЯ И ИССЛЕДОВАНИЕ СВОЙСТВ:

(Научно-исследовательский физико-технический институт, Физический факультет, Радиофизический факультет,  Научно-образовательный центр "Нанотехнологии", Научно-образовательный центр "Физика твердотельных наноструктур").

 

     ННГУ приглашает к взаимовыгодному сотрудничеству в различных областях науки и техники как российские, так и зарубежные компании и организации.
     ННГУ готов на коммерческой основе выполнить по Вашему заказу НИОКР, провести консультации и экспертизу, предлагает иную помощь в решении научно-технических проблем, а также содействие в продвижении на рынок Ваших разработок.

     Расположенные ниже ссылки представляют быстрый доступ к информации об исследовательских ресурсах ННГУ и достигнутых результатах, ведущих специалистах, основных партнерах и заказчиках,  основном технологическом и исследовательском оборудовании, ключевых проектах, источниках финансирования и основных публикациях.

 

Металлы, сплавы, керамики
- Разработка, получение и исследование объемных нано - и микрокристаллических сплавов: Al-Mg-Mn, Al-Zn-Mg, Al-Si, Al - Sc , Mg-Al-Zn, Mg-Zn-Zr, Cu-Cr-Zr (технология равноканального углового прессования);
- Разработка, получение и исследование новых металлических и керамических наноматериалов (технология электроимпульсного спекания – s park plasma sintering );
- Разработка и исследование новых сверхпластичных материалов для высокоскоростной и низкотемпературной сверхпластической формовки;
- Методики оценки технического состояния металла труб магистральных газопроводов с учетом старения трубных сталей.


 

Наноструктуры, наноэлектроника и нанооптика
- Разработка и создание наноструктурированных многофункциональных полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур на их основе;
- Создание и исследование сложных эпитаксиальных нано-гетероструктур на основе полупроводников А3В5;
- Создание и исследование магнитных полупроводниковых наноструктур для спинтроники;>
- Создание и исследование перспективных наноструктурированных материалов для планарной оптики и оптоэлектроники;
- Создание методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) многослойных Si и Si/Ge наноструктур, в том числе, легированных редкоземельными элементами для микро- и оптоэлектроники;
- Формирование методами ионной имплантации наноструктурированных  материалов и изучение их свойств.

 

Кроме того, в Научно-исследовательский физико-техническом институте, на Физическом  факультете и в Научно-образовательском центре "Физика твердотельных наноструктур" проводятся следующие исследования:

- Моделирование физических свойств наноструктурированных материалов и процессов на наномасштабах с  использованием  суперкомпьютерных технологий:

Ведущие специалисты:
- Демиховский Валерий Яковлевич, доктор физико-математических наук, профессор;
- Сатанин Аркадий Михайлович, доктор физико-математических наук, профессор;

-  Изучение структурных оптических электронных и механических свойств твердых тел, в том числе инаноструктурированных материалов, с ипользованием методов:
- Рентгеноструктурного анализа монокристаллов;
- Сканирующей зондовой атомно-силовой микроскопии;
- Сканирующей зондовой туннельной микроскопии;
- Сканирующей ближнепольной  оптической микроскопии;
- Электронной (просвечивающей,  растровой) микроскопии;
- Локальной растровой Оже микроскопии;
- Оптической спектроскопии;
- Рамановской спектроскопии;
- Электронного парамагнитного резонанса;

Основное исследовательское оборудование
- Комплекс оборудования для оптической спектроскопии, включающий измерение  фото- и электролюминесценция с временным разрешением, оптическое пропускание/поглощение на базе приборов:
       - спектрометр «Acton Research» ( США);
       - спектрофотометры Cary-6000i и Cary-5000 (Varian, Нидерланды);
       - спектрометр Varian FT-Raman Synergy (Varian, США );
       -  автоматизированная установка для измерения спектров фото- и электролюминесценции (0.3-2.0 мкм), а также электрофизических параметров структур в диапазоне температур 10-300 К. (“Janis” , США); 
- Анализатор параметров полупроводниковых приборов Agilent B1500A для измерения I-V и C-V характеристик; 
- Универсальный атомно-силовой микроскоп  и о птический микроскоп ближнего поля ( Aurora TopoMetrix, Германия);
- Уникальный сверхвысоковакуумный комплекс для исследования морфологии, атомной структуры и химического состава поверхности твердых тел и контроля процесса роста эпитаксиальных слоев в технологической камере комплекса типа Multiprobe S (Omicron Nanotechnology GmbH, Германия);
- Автоматический рентгеновский монокристальный дифрактометр с CCD детектором (Oxford, Англия);
- Растровый электронный микроскоп (Jeol JSM-6490, Япония); 
- Установка для жидкофазной МОС-гидридной эпитаксии ( AIX200RF , Германия); 
- Установка для создания объемных наноматериалов под воздействием механического давления и импульсного тока (SPS – 625, Япония); 
- Комплекс оборудования для фотолитографии; 
-  ЭПР спектрометр (Bruker ЕМХ/060310-СМ, (Германия) и др.;

Ведущие специалисты:
- Чупрунов Евгений Владимирович, доктор физико-математических наук, профессор;
- Марычев Михаил Олегович, кандидат физико-математических наук, доцент;
- Ежевский Александр Александрович, доктор физико-математических наук, профессор;
- Филатов Дмитрий Олегович, кандидат физико-математических наук, доцент.

 

 

Порядок взаимодействия и контакты